適用于光學、半導體及FPD應用—島津UV-VIS-NIR分光光度計

是一款的高靈敏度分光光度計，可進行深紫外區檢測，具備大樣品室，可滿足光學、半導體及FPD在以下方面的檢測需求。

FPD：
材料評估中NIR和大樣品的高靈敏度測定。

半導體：
短波長激光和12英寸晶片整體表面的深紫外區測定。

光通信：
減反射膜NIR高靈敏度測定。

光學：
從DUV到NIR再到大樣品的高靈敏度分析。

SolidSpec-3700/3700DUV特點

高靈敏度
SolidSpec-3700和3700DUV是臺使用3個檢測器的分光光度計：光電倍增管（PMT）探測器檢測紫外區和可見光區，近紅外區使用InGaAs 和 PbS檢測器。InGaAs 和 PbS檢測器的使用使得近紅外區域的靈敏度顯著增強。

深紫外區檢測
SolidSpec-3700DUV具有檢測深紫外區的能力，可測定至165nm或175nm的積分球。此檢測是用氮氣吹掃光室和樣品室進行的。注： 165nm是SolidSpec-3700DUV使用直接受光單元DDU-DUV測定）的最短波長。

大樣品室
大樣品室（900W x 700D x 350H mm) 可在不損傷大樣品的前提下進行檢測。其垂直光路可直接測量大樣品同時保持它們的水平狀態。使用自動X-Y樣品臺（選配）測定樣品的尺寸是12英寸或310×310mm。

Optional Accessories選配組件

Direct Detection Unit DDU/DDU-DUV (for liquid/solid transmission measurements)直接受光單元DDU/DDU-DUV對于液、固樣品透過率測定
自動X-Y樣品臺（自動測量）
大型鏡面反射附件
氮氣流量裝置
鏡面反射附件(5°12°30°45°)
積分球刪除樣品盤

一體軟件

SolidSpec-3700/3700DUV的UVProbe軟件包括光譜模塊，光度模塊，動力學及報告模塊等功能。多重的安全性及可追蹤性以確保刪除數據的可靠性。

光學組件需要對透光率及反射率進行高精度測定。SolidSpec-3700/37000DUV擁有三個檢測器，覆蓋的范圍從紫外區到近紅外區。通過使用InGaAs和冷卻型PbS檢測器提高近紅外區的靈敏度。從而得到從紫外區到近紅外區高精度和高靈敏度光譜。

傳統的分光光度計使用一個光電倍增管對紫外和可見區域進行檢測。但所有檢測器在檢測器轉換范圍內靈敏度較低，因此在此范圍檢測時無法實現高靈敏度測定。 SolidSpec-3700/3700DUV通過使用InGaAs檢測器可在轉換領域內進行高靈敏度檢測。

高靈敏度檢測

InGaAs檢測器和PbS 檢測器測定銳截止濾光片透過率的譜圖如下圖所示：SolidSpec-3700/3700DUV從850至1600nm范圍內實現了低噪音水平，與傳統的分光光度計相比，1300至1600nm范圍內，噪聲減少了四分之一。

SolidSpec-3700/3700DUV在1300-1500nm，在透過率小于1%的前提下，噪聲水平小于0.1%。此波長范圍的高靈敏度分析使SolidSpec-3700/3700DUV成為檢測低反射樣品的強有力工具，如在光傳輸中使用的防反射涂層及薄膜。

1500nm處的噪聲為優水平，小于0.00005Abs（狹縫寬度8nm，RMS），刪除使用直接受光單元DDU/DDU-DUV.小于0.00003Abs（狹縫寬度2nm，RMS）

為進行深紫外區的測定，檢測器的窗口和積分球內壁均使用不吸收深紫外光的材料，SolidSpec-3700DUV的PMT檢測器使用特制熔融石英作為窗口材料，積分球內壁使用深紫外區具有高反射性能的特殊樹脂。

深紫外區高靈敏度和低雜散光測定

深紫外區的高精度測定要求充足光通量和低雜散光。
右圖是使用直接受光單元DDU-DUV（選配）測定石英板的透過率光譜。
在紫外區域可得到超低噪聲的光譜。

SolidSpec-3700/3700DUV配有大樣品室，可使大樣品進行無損檢測。其內部尺寸為900W x 700D x 350H。
可測定的樣品尺寸700W x 560D x 40H mm。樣品尺寸為12英寸或310 x 310 mm的樣品可用自動X-Y樣品臺（選配）
使用X-Y樣品臺的大樣品室

使用X-Y樣品臺測定12英寸硅片

自動檢測

為SolidSpec-3700/3700DUV研發的自動X-Y樣品臺可對提前點進行自動檢測，同時又可進行氮氣吹掃。

12英寸硅片上SiO2薄膜的反射光譜

12英寸硅片上薄膜的厚度測定